絕緣介電常數介質損耗因數測試儀

絕緣介電常數介質損耗因數測試儀特點： 

◎ 本公司創新的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

絕緣介電常數介質損耗因數測試儀儀器技術指標：
☆Q值測量：
a．Q值測量范圍：5～999。 b．Q值量程分檔：30、100、300、999、自動換檔。
c．標稱誤差
頻率范圍：25kHz～10MHz； 固有誤差：≤5％±滿度值的2％；工作誤差：≤7％±滿度值的2％；
頻率范圍：10MHz～50MHz； 固有誤差：≤7％±滿度值的2％；工作誤差：≤10％±滿度值的2％。
☆電感測量：
a．測量范圍：0.1μH～1H。
b．分 檔：分七個量程。
0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 
0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。
☆電容測量：
a．測量范圍：1～460pF(460pF以上的電容測量見使用規則)；
b．電容量調節范圍
主調電容器：40～500pF； 準 確 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；
微調電容量：－3pF～0～＋3pF； 準 確 度：±0.2pF。
☆振蕩頻率：
a．振蕩頻率范圍：25kHz～50MHz；
b．頻率分檔
25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，
1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。
c．頻率誤差：2×10-4±1個字。
☆Q合格指示預置功能，預置范圍：5～999。
☆儀器正常工作條件

a. 環境溫度：0℃～+40℃； b．相對濕度：<80％； c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 
☆試樣尺寸
圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時），Φ25~35mm（ε=12~30時），Φ15~20mm（ε>30時）

☆其他

a．消耗功率：約25W；

b．凈重：約7kg；

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

☆ Q合格指示預置功能
預置范圍：5～1000。

儀器特點：
☆接線簡單（正接法兩根線，反接可使用一根線），所有電纜線均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，測量電壓緩升、緩降，全自動測量，結果直讀，無須換算。

☆多種測量方式 可選擇正/反接線、內/外標準電容器和內/外試驗電壓進行測量。正接線可測量高壓介損。

☆ 抗震性能 儀器可承受長途運輸中強烈震動顛簸而不會損壞。
☆ 抗干擾能力強 采用自動跟蹤干擾抵償電路，將矢量運算法與移相法結合，有效地消除強電場干擾對測量的影響，適用于500kV及其以下電站的現場試驗。

☆CVT測量 *自激法測量CVT功能，不需外加任何設備，可完成不可拆頭CVT的測量。

一次接線（三根電纜，不用倒線），一個測量過程（大約1分鐘），兩個zui終測量結果（C1和C2的介損及電容值）。

測量過程中文顯示，能實時監測自激電流值和試驗電壓（高壓）值。能消除引線對測試的影響，測量結果準確可靠。

☆ 安全措施（1）高壓保護：試品短路、擊穿或高壓電流波動，能迅速切斷高壓輸出。
（2）CVT保護：設定自激電壓的過流點，一旦超出設置的電流值，儀器自動退出測量，不會損壞設備。
（3）接地檢測：            儀器有接地檢測功能，未接地時不能升壓測量。
（4）防誤操作：             具備防誤操作設計，能判別常見接線錯誤，安全報警。
（5）防“容升”：           測量大容量試品時會出現電壓抬高的“容升”效應，儀器能自動跟蹤輸出電壓，保持試驗電壓恒定。
☆ VFD顯示 采用新穎的大屏幕VFD點陣顯示器，在嚴冬和盛夏都能清晰顯示。全中文操作菜單，操作提示各種警告信息，直觀明了，不需查閱說明書即可操作。
☆打印 儀器附有微型打印機，以中文方式打印輸出測量結果及狀態。
☆RS232 儀器具有RS232接口，與計算機連接便于數據的統計和處理及保存。
☆可選購與計算機通信應用程序。

介電常數介質損耗測試儀主要技術指標：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：

50kHz～50MHz    四位數顯，壓控振蕩器

Q值測量范圍：

1～1000三位數顯，±1Q分辨率

可調電容范圍：

40～500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差：

±1%±1pF

Q表殘余電感值：

約20nH

介電常數介質損耗測試儀裝置：

2.3.1 平板電容器極片尺寸：:

Φ38mm和Φ50mm二種.

2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：

0～8mm， ±0.01mm

2.3.3 圓筒電容器線性：

 0.33 pF /mm±0.05 pF, 

2.3.4 圓筒電容器可調范圍：

±12.5mm（±4.2pF）

2.3.5 裝置插頭間距：

25mm±0.1mm

2.3.6 裝置損耗角正切值:

≤2.5×10-4

測微電極：兩個螺旋測微器，左邊是微調圓筒式電容，測量損耗正切時起調節作用。右邊是平板測量電容，樣品（5）被夾在平板電容兩個極板（4，6）之間，測量介電常數起調節作用。

兩個電容屬于并聯關系，是諧振電路的一部分。

二  測試電路原理

振蕩器輸出頻率可調的正弦信號，通過調節電容使電路諧振；在電路諧振狀態下，調節可變電容得到相應測量參數，推算被測樣品的介電常數和損耗正切值。

左邊可調電容就是圓筒微調電容，右邊固定電容就是平板測量電容，兩個極板之間是否有樣品，電路的行為是不一樣的。

儀器面板如下：

1-6為按鍵：

1 頻率搜索 2頻率暫停 3 頻率加 4頻率減  5電感切換+  6電感切換-

7為通道選擇波段開關，左中右3個檔

8為輔助電容調節旋鈕，順時針到頭=電容zui小

三  測試操作與原理

把高Q值電感線圈L和測微電極安裝在相應插孔上。開機出現畫面：

F=儀器產生的信號頻率，Q=儀器測量的當前諧振狀態（Qzui大時=諧振中心點），L=用戶所配電感，對不同電感儀器提示選擇不同的通道。

1 測介電常數

調節平板電容器測微桿，使二極片相接為止，讀取刻度值記為DO。

再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節時要用測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取新的刻度值，記為D1，這時樣品厚度D2= D1－D0。

選鈕8順時針擰到頭。

開機，按5號鍵或6號鍵選擇電感；按照提示，通過選鈕7調節通道。

按1號鍵（自動）搜索頻率，Q達到zui大，自動鎖定頻率。

（如Q比較小，再次按1號鍵搜索頻率；還可以通過3，4號鍵手動調節頻率找到zui優諧振頻率）

取出平板電容器中的樣品（切記不要調節頻率），這時Q表又失諧，調節平板電容器，使再諧振（只調節平板電容，不調節頻率，Q再次達到zui大），讀取測微桿上的讀值D3，其變化值為D4= D3－D0。

被測樣品的介電常數：Σ＝D₂ / D₄

2 測損耗角正切值

把被測樣品插入二極片之間，調節平板電容器，到二極片夾住樣品止。

選鈕8順時針擰到頭。

開機，按5號鍵或6號鍵選擇電感；按照提示，通過選鈕7調節通道。

自動搜索頻率，使之諧振，讀得Cx值，記為C1。

取出平板電容器中的樣品，調節平板電容器，使它再回到夾住樣品的間距。

自動搜索頻率，使之諧振，讀得Cx值，記為C2。

把被測樣品插入二極片之間，調節平板電容器，到二極片夾住樣品止。

把園筒電容器置于10mm處。

自動搜索頻率，使之諧振，讀得Q值。

先順時針方向，調節園筒電容器，讀取當Q表指示Q值為原值的一半時測微桿上一個刻度值；后逆時針方向，調節園筒電容器，再次讀取當Q表指示Q值為原值的一半時測微桿上一個刻度值，取這二個值之差，記為M1。

取出平板電容器中的樣品，調節平板電容器，使它再回到夾住樣品的間距。

再把園筒電容器置于10mm處。自動搜索頻率，使之諧振，讀得Q值。

先順時針方向，調節園筒電容器，讀取當Q表指示Q值為原值的一半時測微桿上一個刻度值；后逆時針方向，調節園筒電容器，再次讀取當Q表指示Q值為原值的一半時測微桿上一個刻度值，取這二個值之差，記為M2。

被測樣品的損耗角正切值：

     tgδ＝K（M₁－M₂ ）/ [2(C1-C2)]

式中：K為園筒電容器線性變化率，一般為0.5pF / mm。

四  注意事項

1 諧振狀態時，時間不能太長，以免電源過熱

2 不同電感諧振頻率范圍不同：