四探針低電阻率測(cè)試儀

 四探針低電阻率測(cè)試儀功能概述Overview：

　　1. 可以測(cè)試到1uΩ方阻值

　　2. 恒流輸出

　　3. 液晶顯示

　　4. 自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量

　　5. 雙電組合測(cè)試方法.

　　6. 提供中文或英文語(yǔ)言版本.

　　7. PC軟件運(yùn)行.

四探針低電阻率測(cè)試儀

適用范圍Widely used：

　　1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

　　2.硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，

　　3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，

　　4.抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等

步驟及流程

　　1. 開啟電源，預(yù)熱5分鐘.

　　2. 裝配好探頭和測(cè)試平臺(tái).

　　3. 設(shè)定所需參數(shù).

　　4. 測(cè)量樣品

　　5. 導(dǎo)出數(shù)據(jù).

　　優(yōu)點(diǎn)描述：

　　1. 自動(dòng)量程

　　2. 準(zhǔn)確穩(wěn)定性.

　　3. 雙電組合測(cè)試方法

　　4. 標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器

　　5. PC軟件運(yùn)行

　　6. 同時(shí)顯示電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

　　7. 可顯示5位數(shù)字.

　　8. 中、英文界面

1.方塊電阻范圍： 10-6～2×105Ω/□

2.電阻率范圍： 10-7～2×105Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍： 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA

4.電流精度： ±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度： ≤0.3%

6.PC軟件界面： 電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、

探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率、電阻率、壓強(qiáng)

7.測(cè)試方式: 四探針測(cè)量（體電阻率）和四端法（接觸電阻測(cè)量）